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측정기술자료

400G PAM4 테스트

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작성자 최고관리자
댓글 0건 조회 99회 작성일 21-05-25 14:58

본문

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400G 측정 문제 해결

전 세계적으로 클라우드 컴퓨팅이 빠르게 성장하면서 고성능 데이터 센터 인프라에 대한 수요도 급속히 증가하고 있습니다.

이러한 높은 수요를 충족하기 위해 개발자들은 400G 기술로 전환하여 더 작고 빠르며 비트당 비용이 더 저렴한 솔루션으로 방향을 틀고 있습니다.

더 높은 순위의 변조와 최대 56Gbaud까지 더 높은 데이터 속도를 사용하는 것을 비롯하여 400G를 지원하는 몇 가지 핵심 기술이 있습니다.

이러한 새로운 변조 체계는 4레벨 펄스 진폭 변조(PAM4)를 제공하여 종래의 NRZ에 비해 2배 더 빠른 데이터 속도로 기호당 2비트를 전송합니다.


더 낮은 신호-노이즈 비율과 동급 NRZ 진폭의 1/3을 나타내는 PAM4 신호는 성공적인 검증을 위해 보다 수준 높은 도구 및 기능이 필요합니다.  


 400G 제품 개발 가속화

 

400G 제품을 개발하는 일은 어려운 작업입니다. PAM4 신호를 제대로 평가하려면 보다

정교한 도구와 기능이 필요합니다. DPO7OE 시리즈 광 프로브 는 DPO70000 실시간

스코프에 적합합니다. 우수한 기능과 트리거, 디버그 기능으로 56GBaud까지 PAM4 신호를

측정하고 효과적으로 문제를 해결합니다.

텍트로닉스 실시간 솔루션 은 기술의 진보를 효율적으로 검증하며, 샘플링 오실로스코프의

낮은 노이즈를 보완하는 400G 기술을 빠르게 디버그하고 검증할 수 있도록 해 줍니다.

 

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NRZ에서 PAM4로 전환되면서 옵틱 신호의 테스트가 더 복잡해졌습니다.


 

더 빠른 검증 및 수율 증가

 

가장 큰 난제 중 하나는 필요한 사양을 충족하면서 장치당 테스트 비용을 가능한 낮게

유지해야 하는 문제입니다. PAM4 신호가 NRZ 신호에 비해 수행해야 하는 테스트 수를

10의 계수로 늘리면서, 최적화된 조정을 위해 측정값을 빠르게 제공하면서도 프러덕션

수율을 최대화하기 위해 노이즈가 최저인 솔루션이 필요합니다.

텍트로닉스 샘플링 솔루션에는 DSA8300 및 80C20/21 광 모듈 이 포함되어 있어 최대

56GBaud를 테스트할 때 최고 대역폭과 민감도 및 최단 테스트 시간을 제공합니다.

이 솔루션을 사용하면 성능과 테스트 비용의 균형을 효과적으로 맞출 수 있습니다.

 

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TDECQ 측정은 PAM4 신호의 테스트 복잡성을 보여 줍니다.


 

주요 콘텐츠

 

 

 NRZ 및 PAM4 신호용 광 대역폭 요구 사항

 PAM4(400G/200G/100G/50G) 네트워킹 기술

 실시간 오실로스코프로 광 프로빙 및 측정

 백서

 포스터

 웹 세미나

근까지 광학 및 전기 대역폭 모두 비슷한 결과를 거두었지

만, 최근 IEEE 사양이 변경되면서 더 이상은 그렇지 않습니다.

이 백서에서는 이러한 용어를 명확히 하고, 관련성을 수학적

으로 보여주며, 광채널에 대한 광학/전기 대역폭을 이해하고

자신 있게 계산할 수 있는 기반을 제공합니다.


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PAM4 포스터를 다운로드하여 확인하세요. 광학 표준과 측정

및 전기 표준과 측정에 대한 모든 것을 확인할 수 있습니다.

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광학 네트워킹의 새로운 문제를 준비하십시오.

이 웨비나에서는 실시간 오실로스코프의 기능을 활용하는

광학 네트워킹 시스템 구성 요소 또는 시스템에 광학 PAM4

기능을 통합하면 발생되는 중요한 설계상의 문제에 대해

전문가가 설명합니다.


 

 

 

PAM4 실시간 스코프

소프트웨어

DPO70000SX

실시간 스코프

신제품! 실시간 스코프용

광(옵티컬) 프로브

 PAM4

 DPO70000SX

 DPO7OE 시리즈

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PAM4 분석 및 디버그를 손쉬운 기능으로 능률적으로

수행할 수 있습니다.
PAM4 분석 및 디버그
PAM4 400G TX 전기 컴플라이언스

가장 정확하게 고속 신호 동작을 캡처하여 차세대 설계를

인하고 검증하며 특성화함으로써 복잡한 400G 테스트

설정을 간소화합니다.


 PAM4 및 NRZ용 소프트웨어 클럭 복구, 트리거링, 오류

감지, 신호의 시간 상관 또는 연속 획득 캡처를 비롯한

강력한 디버그 기능으로 문제를 쉽게 해결할 수 있습니다.

• IEEE 및 OIF-CEI 표준뿐만 아니라 PAM4용 지터/아이

  측정도 처리하는 포괄적인 전기 및 광학 측정 세트
• 여러 신호 매개 변수를 자동 구성하는 기능의 단일 통합형

  애플리케이션으로, 사용하기 편리합니다.
• 주석을 사용하여 개별 기호 에러 감지 및 탐색
• 측정 결과를 시각화하고 분석하기 위한 포괄적인

  도표 및 보고서

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• 23, 33, 50, 70GHz 대역폭 모델 사용 가능
• 간단하고 광범위한 PAM4 분석 - 외부 CR 필요 없음
• 강력한 디버깅 도구를 제공하여 신속하게 설계 문제

   확인 및 수정
• 복합 링크 연결 시퀀스 디버깅
• PAM4 및 NRZ 신호 특성화
• 광학 및 전기 측정 모두 사용 가능


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• DPO/MSO70000C/DX/SX 실시간 스코프와 함께 사용
• 파장 응답: 1200m-1650nm
• 광대역 DC - 최대 59GHz
• 광 노이즈 10µW (ATI)
• NRZ(PAM2) 및 PAM4 기준 수신기 56Gbaud
• 최대 59GHz까지 일반 레이저 신호 획득을 위해 플랫

   반응 필터가 있는 일반적인 O/E로 사용


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PAM4 샘플링 스코프

소프트웨어

DSA8300 샘플링 스코프

신제품! 샘플링 스코프용

광 모듈

 PAM4

 DSA8300

 신제품! 80C20과 80C21

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새로운 OIF-CEI 및 IEEE 표준을 지원하며 모든 기능을

갖춘 400G PAM4 측정 기능을 제공합니다.
고속 PAM4 및 PAM2 NRZ의 지터, 노이즈, BER 분석

PAM4 400G TX 옵틱 컴플라이언스 SW
(IEEE802.3bs 및 IEEE802.3cd)


PAM4 및 TDECQ(Transmitter Distortion Eye Closure

Quaternary)에 기반한 측정값의 세부 특성화 작업에

적합합니다. 연구 개발 및 제조 테스트를 위한 전기 및

광학 기반 신호를 지원합니다.

현재 400G 설계에 대한 프러덕션 용량을 늘리고 수율을

개선하여 업계 최고의 마스크 테스트 민감도 및 최저 광

노이즈를 갖춘 프러덕션으로 전환합니다.

• 1Gb/s 미만부터 60Gb/s에 이르는 데이터 속도의

  개별 PAM 아이에 대한 포괄적인 지터, 노이즈, BER

  분석으로 PAM4 신호를 분석하여 아이가 닫히게 된

  정확한 원인 파악
• 지터 및 노이즈의 분리로 BER 및 아이 접촉의 정확한

  외삽을 제공할 수 있습니다.
• 신호의 CTLE/FFE/DFE 평준화는 측정을 위해 아이

  다이어그램을 열 때 수신기 비교기로 보는 것과 같은

  방식으로 신호를 보여 줍니다.
• IEEE 802.3bs 및 IEEE 802.3cd 사양에 대한 광 송신기

  측정
• 50GBASE-FR/LR, 100GBASE-DR,

  200GBASE-DR4/LR4/FR4 및

  400GBASE-LR8/FR8/DR4 표준 검증

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• 82A04B 위상 기준 모듈을 포함하여 최대 6개 채널에서

  100fs 미만의 낮은 타임 베이스 지터
• 80GHz 초과 광학 대역폭
• 70GHz 초과 전기 대역폭
• NRZ, RZ, PAM4용으로 120가지가 넘는 자동화된 측정
• 복잡한 지터/노이즈/BER/SER 분석(80SJNB),

  복잡한 측정 TDECQ, SNDR 지원


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• DSA8300 샘플링 스코프와 함께 사용
• 파장 범위: 1200nm-1650nm
• 필터링되지 않은 광 대역폭 53GHz
• 표준 마스크 테스트 민감도 -10dBm
• RMS 광 노이즈(표준 1310nm)는 9µW(@37GHz)입니다.


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